光譜儀掃描式OLED模組壽命測試系統主要應用于多片OLED手機或平板模組屏的壽命衰減測試。

系統組成
1. 三軸自動測量機臺

2. 分光輻射亮度計

3. 視覺定位系統

4. 紅外監控(選配)

5. 溫濕度傳感器(選配)

6. 高溫箱(選配)：RT~100℃，精度：±1℃

7. MDL信號機

9. 工業計算機

10. OLED模組壽命測試軟件

系統特點

● 采用光譜儀掃描測試的方式， 測量恒溫(25℃) 下的亮度、色度(x/y、u'/v') 、色溫、顯色指數、均一性、電流效率、image-sticking、功耗、壽命等。同時XY軸掃描式的測量方式可支持模組表面多點不同位置的壽命衰減和均勻性測。

● 視覺定位系統由500萬像素以上的CCD定位系統+高分辨率CCD圖像觀察系統構成， 每次測量前自動掃描所有工位的OLED的放置位置，自動識別產品中心點坐標和尺寸， 對位精度要求為0.1mm， CCD對位清晰， 更換不同尺寸的OLED產品時， 無需人工重新設置每片產品的坐標位置。

● 溫度監控：選配溫度傳感器，機臺測量光學項目時上傳相應的溫度數據。

● 測試項目：亮度、亮度衰減比、色度值(x/y， u'/v') 、色溫值(Tc) 、發光光譜、衰減時間、已測時間、電壓值、電流值、測試溫度、RGB功能、EL VDD、EL VSS， 并繪制曲線， 根據測試數據， 預估產品的使用壽命5、數據圖表：Voltage-Time、Current-Time、Relative Lv-Time(%) 、Real Lv-Time、Temp-Time、Efficiency-Time

靈活的工位配置

1. 對于柔性屏和直屏等背部平滑的產品，可采用多孔陶瓷真空吸附臺進行固定。吸附臺配有真空吸力數顯表，保證將柔性屏吸附平整的同時不會造成像素的異常。

2. 對于屏體有溫度控制需求，可以選擇貼片式加熱平臺。

3. 對于屏體所處環境溫度有要求，可以選擇高溫箱。有限的機臺空間內對屏體提供均勻的環境溫度控制。每個高溫箱可獨立控溫。

4.為減小機臺尺寸，機臺可設計成前后開門放置產品。

軟件功能

1、可分組測試：不同組可以設置不同的測試項目和測試參數，每組都可以獨立開始和停止。

2、壽命測試時間區間和間隔設置：可以設置三段時間區間和測試間隔。

3、壽命測試結束條件判定：亮度衰減至初始值的百分之多少時停止測量，或按用戶設定的總時間進行測量。

4、OLED位置自動識別：軟件選擇測試的工位， 軟件控制工業視覺對位CCD自動掃描測試工位的OLED發光區尺寸和中心點位置。

5、壽命預估功能：軟件自帶壽命預估公式，根據實時測得的數據自動計算預估壽命時間。

6、電壓/電流隨時間變化的數據，并繪制曲線(要求PG支持電流電壓的檢測和軟件讀取)。

7、測量數據的實時保存和恢復：測試過程中軟件實時保存，即使電腦異常關機或軟件異常退出，重啟后仍可以恢復加載之前的數據，繼續測量。

8、軟件可設置一組熱機畫面， 在等待測試的時間段， OLED循環顯示熱機畫面。

9、支持條碼掃描，及將數據上傳至服務器(需客戶提供上傳協議)。

10、強大的軟件測試功能，用戶可以編輯任意點位置、任意畫面、任意測試項目的組合，可滿足不同畫面的壽命測試、均勻性測試、老化測試等功能。

11、程序支持前后臺獨立程序+數據庫存儲系統。