（二）殘影應(yīng)該如何定量描述？如何解決短期殘影測(cè)量的技術(shù)難點(diǎn)？

2025-12-02 08:42:12 · FSTAR光學(xué)測(cè)試 · 弗士達(dá)

短期殘影和長(zhǎng)期殘影的測(cè)量步驟基本一致，然而相較于長(zhǎng)期殘影，短期殘影在技術(shù)上存在很多難點(diǎn)，其主要原因是短期殘影消散速度快，測(cè)量軟件需要迅速做出反應(yīng)。

殘影分為短期殘影和長(zhǎng)期殘影，

短期殘影現(xiàn)象往往在幾十秒內(nèi)就會(huì)消失，

然而長(zhǎng)期殘影現(xiàn)象可以持續(xù)

幾個(gè)小時(shí)甚至幾天，

在一些罕見(jiàn)的情況下，

殘影現(xiàn)象還可以是永久存在的，

我們往往把這種現(xiàn)象稱為燒屏（或灼屏）。

短期殘影測(cè)量其難點(diǎn)主要為：

控制PG與軟件同步切換畫(huà)面；
測(cè)量?jī)x器需擁有較高的亮度分辨率；
相機(jī)曝光時(shí)間足夠短；
軟件采集圖像時(shí)間速度足夠快；
每次的測(cè)量點(diǎn)位置信息判斷足夠準(zhǔn)確。

殘影測(cè)量具體步驟有哪些？?

殘影測(cè)量步驟通常分為三個(gè)部分：即預(yù)熱、老化和測(cè)量。

預(yù)熱：

點(diǎn)亮一副純色畫(huà)面，保持T0時(shí)間。預(yù)熱的目的是使待測(cè)屏幕處于亮度穩(wěn)定的狀態(tài)，因?yàn)槠聊辉诔跏键c(diǎn)亮?xí)r，亮度存在波動(dòng)，此步驟可避免由于屏幕亮度波動(dòng)造成測(cè)量結(jié)果存在誤差。

老化：

點(diǎn)亮由黑白圖像構(gòu)成的棋盤格畫(huà)面T1時(shí)間。點(diǎn)亮棋盤格畫(huà)面的目的是使待測(cè)屏幕產(chǎn)生殘影現(xiàn)象，屏幕在顯示黑白棋盤格畫(huà)面時(shí)最容易產(chǎn)生殘影現(xiàn)象。

測(cè)量：

切換到測(cè)量灰階圖像，保持T2時(shí)間。在測(cè)量灰階下每隔一定時(shí)間連續(xù)采集圖像，并通過(guò)計(jì)算分析每幅圖像下殘影現(xiàn)象發(fā)生的程度。

短期殘影測(cè)量的技術(shù)難點(diǎn)要如何解決？?

針對(duì)短期殘影測(cè)量項(xiàng)目的技術(shù)難點(diǎn)，弗士達(dá)DI-1600系列儀器給出了答案。

在APK與PC端利用WiFi通信，控制同步切換圖像，在0.1s內(nèi)完成由棋盤格畫(huà)面切換至待測(cè)畫(huà)面，具有速度快、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)；

使用14bit的CCD，具有良好的亮度分辨率，例如：待測(cè)畫(huà)面亮度為10cd/m2，相機(jī)可以分辨至0.0024cd/㎡的亮度差異；

通過(guò)調(diào)大增益使曝光時(shí)間控制在100ms以內(nèi)，同時(shí)采用芯片制冷工藝，提升相機(jī)感光質(zhì)量；

使用1600萬(wàn)像素的相機(jī)，并且可以做到每隔1s采集一副圖像；

市面上大多通過(guò)套用模板的方式提取測(cè)量點(diǎn)信息，這對(duì)于待測(cè)產(chǎn)品的擺放位置要求過(guò)高，DI-1600系列儀器可以做到準(zhǔn)確抓取產(chǎn)品發(fā)光面區(qū)域，并計(jì)算得到用戶需要的點(diǎn)位置，這同時(shí)也減少了誤差產(chǎn)生的可能。