光譜儀掃描式OLED模組壽命測試系統(tǒng)主要應(yīng)用于多片OLED手機(jī)或平板模組屏的壽命衰減測試。

系統(tǒng)組成
1. 三軸自動測量機(jī)臺

2. 分光輻射亮度計(jì)

3. 視覺定位系統(tǒng)

4. 紅外監(jiān)控(選配)

5. 溫濕度傳感器(選配)

6. 高溫箱(選配)：RT~100℃，精度：±1℃

7. MDL信號機(jī)

9. 工業(yè)計(jì)算機(jī)

10. OLED模組壽命測試軟件

系統(tǒng)特點(diǎn)

● 采用光譜儀掃描測試的方式， 測量恒溫(25℃) 下的亮度、色度(x/y、u'/v') 、色溫、顯色指數(shù)、均一性、電流效率、image-sticking、功耗、壽命等。同時XY軸掃描式的測量方式可支持模組表面多點(diǎn)不同位置的壽命衰減和均勻性測。

● 視覺定位系統(tǒng)由500萬像素以上的CCD定位系統(tǒng)+高分辨率CCD圖像觀察系統(tǒng)構(gòu)成， 每次測量前自動掃描所有工位的OLED的放置位置，自動識別產(chǎn)品中心點(diǎn)坐標(biāo)和尺寸， 對位精度要求為0.1mm， CCD對位清晰， 更換不同尺寸的OLED產(chǎn)品時， 無需人工重新設(shè)置每片產(chǎn)品的坐標(biāo)位置。

● 溫度監(jiān)控：選配溫度傳感器，機(jī)臺測量光學(xué)項(xiàng)目時上傳相應(yīng)的溫度數(shù)據(jù)。

● 測試項(xiàng)目：亮度、亮度衰減比、色度值(x/y， u'/v') 、色溫值(Tc) 、發(fā)光光譜、衰減時間、已測時間、電壓值、電流值、測試溫度、RGB功能、EL VDD、EL VSS， 并繪制曲線， 根據(jù)測試數(shù)據(jù)， 預(yù)估產(chǎn)品的使用壽命5、數(shù)據(jù)圖表：Voltage-Time、Current-Time、Relative Lv-Time(%) 、Real Lv-Time、Temp-Time、Efficiency-Time

靈活的工位配置

1. 對于柔性屏和直屏等背部平滑的產(chǎn)品，可采用多孔陶瓷真空吸附臺進(jìn)行固定。吸附臺配有真空吸力數(shù)顯表，保證將柔性屏吸附平整的同時不會造成像素的異常。

2. 對于屏體有溫度控制需求，可以選擇貼片式加熱平臺。

3. 對于屏體所處環(huán)境溫度有要求，可以選擇高溫箱。有限的機(jī)臺空間內(nèi)對屏體提供均勻的環(huán)境溫度控制。每個高溫箱可獨(dú)立控溫。

4.為減小機(jī)臺尺寸，機(jī)臺可設(shè)計(jì)成前后開門放置產(chǎn)品。

軟件功能

1、可分組測試：不同組可以設(shè)置不同的測試項(xiàng)目和測試參數(shù)，每組都可以獨(dú)立開始和停止。

2、壽命測試時間區(qū)間和間隔設(shè)置：可以設(shè)置三段時間區(qū)間和測試間隔。

3、壽命測試結(jié)束條件判定：亮度衰減至初始值的百分之多少時停止測量，或按用戶設(shè)定的總時間進(jìn)行測量。

4、OLED位置自動識別：軟件選擇測試的工位， 軟件控制工業(yè)視覺對位CCD自動掃描測試工位的OLED發(fā)光區(qū)尺寸和中心點(diǎn)位置。

5、壽命預(yù)估功能：軟件自帶壽命預(yù)估公式，根據(jù)實(shí)時測得的數(shù)據(jù)自動計(jì)算預(yù)估壽命時間。

6、電壓/電流隨時間變化的數(shù)據(jù)，并繪制曲線(要求PG支持電流電壓的檢測和軟件讀取)。

7、測量數(shù)據(jù)的實(shí)時保存和恢復(fù)：測試過程中軟件實(shí)時保存，即使電腦異常關(guān)機(jī)或軟件異常退出，重啟后仍可以恢復(fù)加載之前的數(shù)據(jù)，繼續(xù)測量。

8、軟件可設(shè)置一組熱機(jī)畫面， 在等待測試的時間段， OLED循環(huán)顯示熱機(jī)畫面。

9、支持條碼掃描，及將數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器(需客戶提供上傳協(xié)議)。

10、強(qiáng)大的軟件測試功能，用戶可以編輯任意點(diǎn)位置、任意畫面、任意測試項(xiàng)目的組合，可滿足不同畫面的壽命測試、均勻性測試、老化測試等功能。

11、程序支持前后臺獨(dú)立程序+數(shù)據(jù)庫存儲系統(tǒng)。